Cканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения — IQSCAN F50

  • Сверхвысокое разрешение: 0,6 нм при 15 кВ и 1 нм при 1 кВ. Высокое качество изображения при низких ускоряющих напряжениях
  • Технология SuperTunnel™: обеспечивает низкие аберрации и высокую стабильность пучка, улучшая качество изображений
  • Электронно-оптический путь без кроссовера: снижает аберрации и повышает разрешение, особенно при низких напряжениях
  • Объектив с водяным охлаждением: поддерживает постоянную температуру, обеспечивая стабильность работы
  • Широкий диапазон доступных энергий электронов: от 20 эВ до 30 кэВ, позволяет исследовать различные типы образцов без дополнительной пробоподготовки
  • Богатые возможности расширения функционала с помощью установки дополнительных опций и детекторов, таких как STEM, EDS, EBSD и др.
  • Удобство работы: интуитивно понятный интерфейс и оптическая навигация по образцу упрощают процесс исследования
Разрешение 0.7 нм — 15 кВ (SE) | 1.1 нм — 1 кВ (SE)
Увеличение 12x — 2 500 000x
Тип катода Катод Шоттки
Ускоряющее напряжение 20 В — 30 кВ
Детекторы SE, In-Lens, полупроводниковый четырехсекционный BSE
Столик с пятью степенями свободы
Диапазон перемещений столика X,Y: 110 мм | Z: 65 мм | R: 360° | T: -10° — 70°
Дополнительные опции EDS, EBSD, CL, STEM, шлюз, столик с нагревом и охлаждением, столик для физико-механических испытаний и др.

Вам может понравиться

Новая заявка