Cканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией — IQSCAN F40

  • Высокое разрешение позволяет с легкостью работать в субмикронном масштабе
  • Катод Шоттки обеспечивает стабильный и яркий электронный пучок для длительной съёмки и аналитики
  • Удобный интерфейс. Поддержка автоматических функций: автофокус, автоматическая яркость и контрастность, автоматическая коррекция астигматизма
  • Богатые возможности расширения функционала с помощью установки дополнительных опций и детекторов, таких как STEM, EDS, EBSD и др.
  • Режим низкого вакуума в базовой комплектации
  • Дополнительные опции программного обеспечения для анализа частиц и пор: возможность количественного анализа статистики частиц и пор
Разрешение 0.9 нм — 30кВ (SE) | 1 нм — 15 кВ (SE) | 1.8 нм — 1 кВ (SE)
Увеличение 12x — 1 000 000x
Тип катода Катод Шоттки
Ускоряющее напряжение 200 В — 30 кВ
Детекторы SE, LVD, полупроводниковый четырехсекционный BSE
Столик с пятью степенями свободы
Диапазон перемещений столика X,Y: 110 мм | Z: 65 мм | R: 360° | T: -10° — 70°
Дополнительные опции EDS, EBSD, CL, STEM, шлюз, столик с нагревом и охлаждением, столик для физико-механических испытаний и др.

Вам может понравиться

Новая заявка