Описание
Особо узкополосный фильтр OIII-CCD 6.5 нм предназначен для наблюдения туманностей, пропуская полосу света шириной 6.5 нм с центром на длине волны 500 нм, что соответствует линиям излучения OIII (трижды ионизированный кислород). Фильтр уменьшает пропускание света вне полосы пропускания, в частности создаваемого источниками искусственного освещения, включая ртутные и натриевые лампы высокого и низкого давления, а также естественное свечение атмосферы.
OIII испускает на длинах волн 495.9 нм и 500.7 нм. Изображения многих планетарных туманностей и остатков сверхновых могут быть получены только с помощью фильтров H-alpha или OIII. Они показывают отличные структурные детали.
Основное применение
- Подходит для визуального наблюдения эмиссионных туманностей, планетарных туманностей и остатков сверхновых
- Могут быть получены фотографии глубокого космоса с палитрой телескопа “Хаббл” (HST) при последовательной съёмке с фильтрами H-alpha, OIII-CCD и SII-CCD
- Узкополосный фильтр не увеличивает яркость объекта, он работает за счёт повышения контраста между туманностью и ночным небом
- Внимание. Фильтры Optolong не предназначены для прямых наблюдений Солнца. Обязательно используйте апертурный фильтр.
Оправа
- Изготовлена из анодированного алюминиевого сплава с антибликовым покрытием
- Внешняя резьба M48x0.75 для установки на 2″ окуляры
- Световой диаметр (диафрагма): 45 мм
Подложка/основа
- Стекло марки Shott B270 толщиной 2 мм
- Точность обработки поверхности λ/4 или лучше
- Отклонение от параллельности не более 30 угловых секунд
- Высокое качество поверхности “60/40” или лучше (спец. MIL-O-13830)
Оптическое покрытие
- Нанесено методом ионного осаждения в вакууме, имеет одинаковую толщину по всей поверхности
- Долговечное и устойчивое к царапинам
- Стабильные спектральные характеристики при различных температурах
Тип фильтра | узкополосный |
Область применения | для астрофотографии |
Световой диаметр (апертура), мм | 45 |
Внешний диаметр | 2 дюйм |
Центральная длина волны (CWL), нм | 500 |
Ширина полосы пропускания, нм | 6.5 |
Коэффициент пропускания, % | 80 |
Точность изготовления поверхности | λ/4 |
Качество поверхности по MIL-O-13830 | 60/40 |
Непараллельность поверхностей, не более | 30 угл. сек. |
Толщина подложки, мм | 2 |